描述

二、設(shè)計注意事項

1、應(yīng)遵守梯形圖語言中的語法規(guī)定

2、設(shè)置中間單元在梯形圖中，若多個線圈都受某一觸點串并聯(lián)電路的控制，為簡化電路，在梯形圖中可設(shè)置用該電路控制的輔助繼電器，類似于繼電器電路中的中間繼電器。

3、分離交織在一起的電路

設(shè)計梯形圖時以線圈為單位，分別考慮繼電器電路圖中每個線圈受到那些觸點和電路的控制，然后畫出相應(yīng)的等效梯形圖電路。

4、常閉觸點提供的輸入信號的處理

設(shè)計輸入電路時，應(yīng)盡量采用常開觸點，如果只能用常閉觸點，梯形圖中對應(yīng)觸點的常開/常閉類型應(yīng)與繼電器電路相反。

5、時間繼電器的瞬動觸點的處理

對于有瞬動觸點的時間繼電器，可以在梯形圖中對應(yīng)的定時器的線圈兩端并聯(lián)輔助繼電器，后者的觸點相當于時間繼電器的瞬動觸點。

6、斷電延時的時間繼電器的處理

用通電后延時的定時器來實現(xiàn)斷電延時功能。

7、外部聯(lián)鎖電路的設(shè)計

在梯形圖中設(shè)置對應(yīng)的輸出繼電器的線圈串聯(lián)的常閉觸點組成的軟件互鎖外，還應(yīng)在PLC外部設(shè)置硬件互鎖電路。

熱繼電器過載信號的處理

1)自動復位型熱繼電器，其觸點提供的過載信號必須通過輸入電路提供給PLC，用梯形圖實現(xiàn)過載保護;

2)手動復位型熱繼電器，其常閉觸點可以在PLC的輸出電路中與控制電機的交流接觸器的線圈串聯(lián)。

9、盡量減少PLC的輸入信號和輸出信號

10、注意PLC輸出模塊的驅(qū)動能力能否滿足外部負載的要求。

PLC一般只能驅(qū)動額定電壓在AC220V以下的負載線圈電壓為380V的，應(yīng)將線圈換成220V的，或者在PLC如果系統(tǒng)原來的交流接觸器的外部設(shè)置中間繼電器。

歐美品牌停產(chǎn)的，常用的“PLC”備品備件

我司產(chǎn)品應(yīng)用于以下領(lǐng)域：

1,《發(fā)電廠DCS監(jiān)控系統(tǒng)》

2,《智能平鋼化爐系統(tǒng)制造》

3,《PLC可編程輸送控制系統(tǒng)》

4,《DCS集散控制系統(tǒng)》
?
5,《智能型消防供水控制系統(tǒng)》

6,《化工廠藥液恒流量計算機控制系統(tǒng)》

7,《電氣控制系統(tǒng)》造紙,印染生產(chǎn)線,變電站綜合自動化控制系列

本特利，英維思，伍德沃德，福克斯波羅、西屋、瑞恩、施耐德莫迪康、ABB、AB、西門子、摩托羅拉、GE發(fā)那科、安川、博世力士樂，ACSO，力士樂等各大品牌的DCS系統(tǒng)配件，機器人系統(tǒng)配件，大型伺服系統(tǒng)備件。

C52781 Sloan Dektak V300-Si 12″Wafer Surface Profiler

C73574 MRSI 505 Assembly Work Cell Pick&Place System

K69474 Logitech LP50 Precision Lapping&Polish.System

C71289 Micrion 9100 Focused Ion Beam FIB Milling System

C73914 Varian Unity Inova 500 NMR Spectrometer System

C54479 Jeol JSM-IC848 Scanning Electron Microscope

C75409 Zeiss EM902A Transmission Electron Microscope

C69679 K&S 4524AD Digital Manual Ball Wire Bonder

C72437 Finnigan MAT 8230 Mass Spectrometer

A74871 Mydax 2VLH60W Water-Cooled Chiller/Heater

C68069 HP 83000 Digital Test System Model F660

G52281 Nanometrics Nanospec 9000 Film Analysis System

G40450 ADE Technologies Polar Kerr System

A69510 Logitech 1WBT2 Wafer Substrate Bonder,3 Station

G69555 Logitech 1WBS2 Wafer Substrate Bonder

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G54625 Asymtek A-612C Dispensing System

G50677 FK Delvotec 6320 Bonder System

C59111 Electroglas 2001CXE 6”Wafer Prober 2001CX 2001X

C69224 K&S 4522 Multi-Process Gold Wire Ball Bonder

A73230 Beckman P/ACE MDQ Capillary Electrophoresis Sys

C55921 YES Yield Engineering Sys YES5 Vapor Prime Oven

A73251 Kodak Image Station 4000MM Pro Imaging System

G70686 Multiline Technology Optiline Post X-Ray Machine

C59242 Electroglas 3001X 8″Wafer Prober Probe Station

C74218 PE Sciex API QStar Pulsar 1 Mass Spectrometer

A51532 Asymtek Millennium Series Dispensing System,600

C56237 Zevatech CT-3000 Pick and Place Machine

G54212 Asymtek A-618C Millennium Dispensing System

G66395 Hitachi S-2300 Scanning Electron Microscope

G54295 Asymtek Dispensing System

G75521 TA Inst.TGA2050 Thermogravimetr?ic Analyzer

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A70055 Thermo Nicolet Nexus 470 FT-IR,Centaurus Scope

A69734 LC Packings Famos,Switchos,Ultimate HPLC Sys

AE43005 Synax SX-141 Pick and Place Wafer Handler

AN43004 Alessi 6″Prober XYZ w/Microscope,Extras

A58421 Wentworth Labs 8″Prober MM2004(0-043-0001)

C69531 Rudolph AutoEL III 2B 4A Automatic Ellipsometer

C69866 K&S 4129 Vertical Feed Wedge Bonder w/Heated Tip

A73561 Cincinnati Test Systems Sentinel M24 Leak Test

C57559 Tokyo Seimitsu TSK A-WD-4000A Wafer Dicing Saw

A74058 Yamato Ohkawara DL-41 Spray Dryer

L66981 Disco Corp Automatic Dicing Saw DAD-3D/8

C71085 Gaertner Scientific Corp.L115 S Ellipsometer

C70347 Solid State Measurements CV Test Analysis System

C69865 K&S 4124 Gold Ball Wire Bonder w/LWD Microscope

C69864 K&S 4124 Gold Ball Wire Bonder w/Negative E.F.O.

C69692 K&S 4124 Thermosonic Gold Ball Wire Bonder

C28990 Orthodyne 20R Wire Bonder w/Nikon SMZ-1 Scope